条纹投影扫描测量技术凭借非接触式测量、测量速度快以及测量精度高等优点，广泛应用于逆向工程、文物保护等复杂曲面几何参数的精密测量领域。但由于条纹投影扫描测量技术需要通过高阶模型进行标定，在测量中获取的各项数据在高阶模型中标定较为困难，从而影响了测量结果的稳定性。
研究人员针对标定模型优化、自适应有效点云识别以及相位误差精确补偿等关键问题，提出了创新性的解决办法，从而获取了高精度的三维轮廓点云。同时，该团队首次提出一种确定高阶标定模型中各组成项对重构结果重要性的分析方法，可在测量过程中识别并剔除对重构结果影响微小的组成项，并通过优化高阶标定模型，在保证精度的前提下，提升了高阶标定模型的计算效率和稳定性。
据介绍，该成果可广泛应用于高精度光学三维扫描领域。目前，该团队已在条纹投影测量技术领域申请4项国家发明专利。
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